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材料学院科教实践与材料分析创新中心聚焦离子双束电镜试运行公告
发布时间:2022-09-21来源: 访问量:

材料学院科教实践与材料分析创新中心建设的聚焦离子双束电镜(Focused Ion/Electron Beam, FIB)已安装调试完成,配备EBSD探头、原位纳米压痕仪,可进行二次电子形貌像/背散射像采集、EBSD扫描、TKD扫描、微柱/悬臂梁制备等离子加工、TEM样品制备、原位微纳力学测试(暂缓开放)等功能,拟于2022926日对校内用户开放试运行,至1025日为止,试运行预约及设备功能与样品要求如下所述。

1 试运行预约规则

1.1 试运行期间,电子束表征用户每日预约时长不超过4小时,费用全免;

1.2 试运行期间,离子束加工用户每日预约时长不超过4小时,离子束TEM样品制备1250/样,离子束样品加工400/小时,铜网+高弹膜盒50/套;

1.3 试运行期间,设备预约开放时间为每周五下午3点,开放下周周一至周五8:00-12:0014:30-18:00时段,晚上暂缓开放,其中923日开放预约926-30日机时;

1.4 试运行期间,设备需要专人操作,用户未经培训严禁擅自操作。

2 设备功能举例与样品要求

2.1 SEM形貌成像(二次电子、背散射像)

薄膜压痕(左)沉积锡球(右)

样品要求:非粉末样品;导电性好;常规SEM样品尺寸;多样品时高度尽量一致;样品表面抛光,视分析目的确定腐蚀与否。

2.2 EBSD扫描

薄膜截面压痕EBSD扫描(左)钛合金透射样TKD分析(右)

样品要求:非粉末样品;导电性好;表面抛光;上下底面平行;样品厚度尽量小,不镶嵌;TKD测试样品可使用电解双喷、离子减薄和FIB制样。

2.3 TEM样品制备

硅基体+氧化硅薄膜(~100nm

样品要求:非粉末样品;非磁性样品;导电性好;表面抛光;上下底面平行;样品厚度尽量小,不推荐镶嵌。

2.4 微纳样品加工

离子刻蚀(左)Pt沉积(右)

微柱加工

样品要求:非粉末样品;非磁性样品;导电性好;表面抛光;上下底面平行;样品厚度尽量小,不推荐镶嵌。

3 测试地点

友谊校区诚字楼西侧112

4 设备操作资质培训办法

设备试运行期间,暂停操作资质培训;

设备正式运行后,针对校内师生开展初中高级培训与考核,合格后自动获取相应功能独立操作资格,但须保证每个月至少两次上机操作经历,否则予以取消。

5 联系方式

王川云 15091763365

满 艺  18829282146

       材料学院科教实践与材料分析创新中心以提供科学、精确、公正、快捷的分析测试服务为宗旨,以培养高层次创新人才、支撑 “双一流”建设为目标,竭诚为校内外师生服务,未尽之处敬请指正!


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