设备型号

PHI 5000 VersaProbe III

Bruker D8 ADVANCE

MFP 3D Origin+

设备用途

元素和其价态的定性、定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析

物相分析及晶体结构测定

纳米尺度三维成像、表面电势，导电性、纳米力学

技术参数

Al Kα微聚焦和扫描X射线源，Mg、Zr双阳极靶；

最小X射线探头尺寸：≤10 μm；

分析面积：Ø10 μm〜1400 μm×1400 μm；

能量分辨率< 0.50 eV (Ag 3d 5/2)；

GCIB能量范围：1 keV〜20 keV。

焦斑尺寸：0.4×12 mm；

2θ转动范围：0〜120°；

测角仪半径：240 mm；

角度重现性：0.0001。

扫描范围：120 μm×120 μm×15 μm；

闭环传感器噪音XY轴<0.6 nm，Z轴<0.25 nm；

高度噪音分辨率<50 pm，激光探测器噪音<15 pm。

样品要求

样品无磁性及放射性，测试中无腐蚀性及挥发性；

片状样品应标明测试面，面积小于2cm×2cm；

块状样表面光滑，上下两面平行，面积小于2cm×2cm，高度小于8mm。

薄片样品表面光滑，面积大于12mm×12mm，小于20mm×20mm；

块状样面积大于12mm×12mm，高度小于4mm。

固体样品，尺寸小于20mm×20mm×10mm

测试地点

研究生东馆201室

研究生东馆203室

研究生东馆213室

开放时间

每周三、四、五 8:00-12:00、14:00-17:30

每周一、二 8:00-12:00、14:00-17:30

每周一、二 8:00-12:00、14:00-17:30

收费标准

XPS全谱加精细谱：300元/样

深度剖析测试：1500元/样

300元/小时

普通形貌：100元/h

表面电势、导电性、力学和摩擦：200元/h

备注：探针自备或中心提供（费用另计）

联系方式

张芬18706890127

张芬18706890127

侯琴15829738390

预约方式

登录材料学院科教实践与材料分析创新中心大型仪器设备管理平台线上预约，网址：http://smarc.nwpu.edu.cn/vue/xgd/