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“材料的分析测试方法与实践”系列讲座第十期-EDS和EBSD/TKD的基本原理、实验技术和数据分析
发布时间:2024-04-19来源: 访问量:

  报告人:刘聪,布鲁克纳米分析应用科学家

报告时间:2024年4月24日(周三)

报告安排:

上午:

9:30-10:30 能谱仪基本原理和定量分析

10:50-12:00 同轴TKD技术及常见问题讨论

报告地址:材料科技大楼4楼41606智慧教室

下午:

14:00-16:00 EDS上机演示 地址:诚字楼西侧129室

同轴TKD上机演示 地址:诚字楼西侧123室

主持人:李江 副研究员



报告摘要:

能谱仪(EDS)、电子背散射衍射仪(EBSD)及透射菊池衍射(TKD),是科研人员在微纳尺度表征材料成分的重要分析测试方法。 EDS能够分析样品的微区成分,EBSD和TKD则可以表征样品的晶体学信息。本专题培训将介绍EDS的基本原理与定量分析方法,以及探讨通过调整电镜的工作参数获得优化的EDS结果,EBSD/TKD的基本原理和参数优化以及EBSD/TKD结果的解读。

报告人简介:

  刘聪,英国谢菲尔德大学材料工程博士,2022年加入德国Bruker公司担任应用科学家。主要负责EDS,EBSD,Micro-XRF等纳米分析仪器的应用,同时对增材制造镍基高温合金有丰富经验。



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